一、概述

      在半导体器件（如MOSFET、JFET等）中，漏源（DS） 和 栅源（GS） 是描述器件电极间电压和电流关系的两个重要概念，通常用  Vds 表示漏源电压，用Vgs表示栅源电压。

二、测试难点

1、MOS管在开关过程中，尤其是半桥电路中，上管电压会随下管开关动作快速跳变，产生高幅值、高频率的共模电压。

2、MOS管开关时会产生强烈的电磁干扰（EMI），普通探头的测量线较长，易成为天线接收干扰信号，导致测量结果出现震荡或噪声。

三、电压探头选择

1、光隔离探头OPLX6000系列

（1）光隔离探头通过光纤传输信号，实现电气隔离，能在全带宽内提供高共模抑制比（通?？纱?20dB以上），有效抑制共模干扰，准确捕捉栅极电压（Vgs）等差模信号，避免因共模干扰导致的波形畸变或误判。

（2）光隔离探头的寄生电容极?。ㄍǔＴ?pF以内），寄生电感也极低，不会引入额外的位移电流或电压振荡，能更真实地反映MOS管开关过程中的电压波形，尤其对于纳秒级开关速度的SiC、GaN MOS管，可避免因探头寄生参数导致的波形失真或过冲。

（3）光隔离探头通过光纤传输信号，不受电磁干扰影响，能在高干扰环境下保持测量精度。

（4）在高压、高功率的MOS管测试场景中，光隔离探头实现测量端与示波器之间的电气隔离，避免因接地回路问题或高压泄漏导致的设备损坏或人员安全风险。

2、高压差分探头HVP6000系列

（1）HVP6000H 系列高压差分探头是具有浮地测量功能的高压高频差分探头，可测量差分电压7000Vpk，带宽 500MHz。

（2）在线调零技术，调零无需断开被测电路。

（3）全量程偏置电压消除技术，可精准测量纹波电压。

（4）波形低失真测量技术。